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Bruker布鲁克台阶仪Dektak Pro探针式轮廓仪
Dektak
ProTM 探针式轮廓仪是行业领先的 Dektak® 产品线中的下一代轮廓仪。新的台式系统融合了超过 55年的创新成果，为半导体应用提供了高达200 毫米的全尺寸样品测量区域，并通过改善用户体验和测量精度缩短了获得结果的时间。Dektak Pro 的进步巩固了该品牌作为世界上最先进的探针式轮廓仪的地位，使其能够满足众多工业和研究市场当前和未来的研发、工艺开发以及QA/QC 需求。
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Bruker椭偏仪FilmTek™ 2000M TSV
FilmTek™ 2000M TSV计量系统为先进的半导体封装应用提供了速度和精度组合。该系统为各种封装工艺和相关结构的高通量测量提供了测量性能和精度，包括表征抗蚀剂厚度、硅通孔（TSV）、铜柱、凸块和再分布层（RDL）。
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Bruker布鲁克JV-QCTT/JV-QCRT X 射线形貌相设备
布鲁克Bruker JV-QCTT/JV-QCRT X 射线衍射仪使用最新的x射线衍射成像(XRDI)技术，具有最全面的晶体缺陷检查解决方案。是专门为化合物半导体生产和研究实验室提供的X射线设备。
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