秉创科技(无锡)有限公司
秉创科技(香港)有限公司
服务热线:
17771892679
Toggle navigation
首页
关于我们
公司简介
公司文化
公司新闻
产品中心
量测设备
X射线分析仪器
原子力显微镜
探针式轮廓仪(台阶仪)
白光干涉轮廓仪
红外光谱仪
纳米力学测试系统
摩擦磨损试验机
外观缺陷检测
蔡司显微镜产品
日立紫外光度计
少子寿命测试设备
膜厚测量系统
其他
工艺设备
沉积刻蚀设备
匀胶显影设备
原子沉积设备
光刻设备
耗材备件
AFM探针
测试探针
分选吸嘴
PFA/PEEK花篮
石英制品
其他
技术服务
行业新闻
行业动态
学习教程
帮助中心
联系我们
探针式轮廓仪(台阶仪)
首页
产品中心
量测设备
探针式轮廓仪(台阶仪)
Bruker布鲁克台阶仪Dektak Pro探针式轮廓仪
Dektak Pro
TM
探针式轮廓仪是行业领先的 Dektak® 产品线中的下一代轮廓仪。新的台式系统融合了超过 55年的创新成果,为半导体应用提供了高达200 毫米的全尺寸样品测量区域,并通过改善用户体验和测量精度缩短了获得结果的时间。
Dektak Pro
的进步巩固了该品牌作为世界上最先进的探针式轮廓仪的地位,使其能够满足众多工业和研究市场当前和未来的研发、工艺开发以及QA/QC 需求。
查看详情
Bruker布鲁克 Dektak XTL 台阶仪
针对300mm尺寸样品进行优化,用于质量保证/质量分析的探针式轮廓仪
查看详情